光学监测系统(OMS)

 薄膜被不断地、更为广泛地使用,或是用于抗反射涂层

用于光学生产流程中自动化监控的测量技术

基于反射率或透射率单色测量的双光束分光光度计

我们开发并制造光学实时监控设备。一套已经投入使用了很长时间的系统装配有基于反射和透射单色测量的双光束光度计。光学监视系统能以一个或多个波长工作,自动创建预先计算并配备线性的在线触发点校正。用于层结构的生产程序的监测结果可以被直接传输。通常,测量设备被集成在全自动操作中,着可确保高可再现性和稳定的涂层结果。

来自光学领域的新技术和产品,和总是随之而来的新的涂层,迫使提高人们对监视测量技术的要求。谁想要达到最高精密度和再现性,就必须能够实时监视涂层过程。这样您对当前的材料涂抹才能一目了然,并且能够在一个封闭系统里短周期性的进行工作。