光学涂层厚度（薄膜）测量仪

反射薄膜测量技术基于薄膜干涉原理。由此可以测定绝缘薄膜的厚度，并能从该数据测出材料的折射率。薄膜被不断地、更为广泛地使用，例如在太阳能行业里、或是用于抗反射涂层、或是医用植入物的镀层。

使用该设备可以测量半透明涂层和所有（透明和非透明的）半导体。重要是，要被测定的膜层至少要有一个微有光泽的表面。

我们能够根据不同的使用用途，提供波长范围在180 到 2500 纳米的光学涂层厚度测量仪。得益于先进的轴系统，OPTEG测量设备也可用于大面积测量。在用于薄膜测量的仪器里內置了一台完整的电脑。它也可以起到服务器的作用，并可由一个或多个软件客户端通过一个简单TCP/IP-连接建立连接。也可同时显示结果，能在不同的地点被使用，例如用于加工流程控制。

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在技术实践中哪里能遇到超薄膜层？

我们能找到例如作为导电层之间的绝缘体或作为扩散阻挡层的薄膜。它们作为抗刮擦硬膜（例如用于汽车工业领域中的玻璃和塑料）或作为抗反射涂层（例如用于光学玻璃、眼镜镜片）十分普及。在薄膜应用中，所涉及的应用尺寸范围从小于10埃（相当于几个原子）到100微米（相当于人的一根头发的宽度）。此类涂层通过旋转涂覆、真空蒸发、溅射、气相沉积或浸涂的方法得以推广。为了能完美地实现其目的，他们必须拥有精准的厚度。它们的成分，粗糙度和其它特点对于所期望的功能来说也可能是起决定性作用的。